醫(yī)用光學(xué)測(cè)量裝置的應(yīng)用及發(fā)展
2024-09-18
醫(yī)用光學(xué)測(cè)量裝置的應(yīng)用及發(fā)展：光學(xué)測(cè)量裝置是一種基于光學(xué)原理進(jìn)行物體或場(chǎng)景測(cè)量的儀器設(shè)備。它通過利用光的干涉、散射、反射等特性，能夠精確地測(cè)量物體的形狀、尺寸、曲率以及光照等參數(shù)。光學(xué)測(cè)量裝置具有非接觸、高精度、高速等特點(diǎn)，在各個(gè)領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用，并在不斷發(fā)展和完善中。光學(xué)測(cè)量技術(shù)起源于19世紀(jì)末的光學(xué)干涉儀。當(dāng)時(shí)，干涉儀主要用于測(cè)量波長、折射率和透明物體的厚度等基礎(chǔ)性參數(shù)。隨著科技的進(jìn)步和光學(xué)原 ...
